靠比较件软件免费大全在线观看_军少枭宠之萌妻拐回家_王小二丧尸漫画_开心五深爱五婷婷_情趣吧在线观看

歡迎訪問天津市能譜科技有限公司網(wǎng)站

當前位置:主頁 > 技術(shù)文章 > 游離二氧化硅分析儀可檢測粉塵中游離的SiO2

技術(shù)文章

Technical articles
游離二氧化硅分析儀可檢測粉塵中游離的SiO2
更新時間:2019-04-16 點擊次數(shù):2592
   游離二氧化硅分析儀可檢測粉塵中游離的SiO2
  粉塵中游離二氧化硅分析儀產(chǎn)品詳細介紹電力和煤炭行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中粉塵的種類較多,主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵、電焊煙塵等,其特點是粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較高,即多為呼吸性粉塵,因此對接塵人員的危害較大。根據(jù)生產(chǎn)性粉塵的理化性質(zhì)、空氣中濃度、進入人體的量和作用部位,產(chǎn)生的危害也有不同,主要包括鼻炎、咽炎、氣管炎、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。我國政府以及電力和煤炭行業(yè)部門對防塵工作高度重視,因此,加強對粉塵中游離二氧化硅含量的檢測是一件非常重要和緊迫的工作。以往檢測粉塵中游離二氧化硅含量,均采用《作業(yè)場所空氣中粉塵測定方法》(GB)規(guī)定的“焦磷酸重量法”,該方法存在操作步驟復(fù)雜、使用試劑種類繁多、檢測周期長、準確性差、試驗室條件要求苛刻等一系列問題,難以滿足現(xiàn)場批量檢測的要求。為了提高檢測的準確性,實現(xiàn)批量檢測的目的,誕生出游離二氧化硅分析儀用來檢測粉塵中游離二氧化硅含量。儀器配置游離二氧化硅檢測儀主機、粉塵采樣器、壓片機、制樣模具、研磨器、進口標準樣品、分析純、烘箱、高溫電爐、篩子等。
  采用紅外分光光度法的游離二氧化硅分析儀測定粉塵中游離二氧化硅含量的過程中除樣品的處理、標準曲線的繪制、樣品量的選擇等會影響檢測結(jié)果的準確性,在具體操作過程中還應(yīng)該注意粉塵粒度的影響。
  粉塵樣品的粒度小于5μm應(yīng)占95%以上,如果顆粒度大于波長粒子,將對入射紅外光產(chǎn)生強烈散射。對于濾膜采集由于樣品的背景吸收使掃描基線抬高或降低,從而影響定量峰的定量,所以必須對定量峰進行修正。
  在多個定量峰中,用800cm的吸光度減去830cm的吸光度進行線性回歸效果.對于沉降塵樣品,如果研磨不充分,粒度大,會使SiO2測定結(jié)果偏低。錠片均勻程度對樣品的測定也會產(chǎn)生影響,所以在壓片之前,先將含有樣品的粉末研磨均勻,并對錠片進行3次掃描取其平均值,這樣有利于消除錠片不均勻的影響。與焦磷酸法的比較,該法切實可行,可在粉塵檢測中推廣使用。

版權(quán)所有 © 2019 天津市能譜科技有限公司 津ICP備17006250號-2 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸 GoogleSitemap

在線客服 聯(lián)系方式 二維碼

服務(wù)熱線

15802289629

掃一掃,關(guān)注我們